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　　的测量电阻率的方法四探针法是一种简便。率有个非常大的优点四探针法测量电阻，华体会体育全站app官网-官方app下载要较准它不需；阻率时还用四探针法较准有时用其它方法测 量电。

　　的线性材料对于一般，某一段传输电流的能力我们常常用电阻来表征，关系式: 图其满足以下1

　　本身的电阻率、长度和横截面积其中 p、Ⅰ和s分别表示材料。满足关系式: 图对于某种材料 p2

　　h、unne、n,、电子迁移率、空穴迁移率和基本电荷量、uh和q分别为电子浓度、空穴浓度。电性能的薄膜材料对于具有一定导，性能一般用方块电阻来表示其沿着平面方向的电荷传输，度为xj方 形薄膜对于边长为l、厚，阻可表示为其方块电:

　　与电阻率p成正比图3 即方块电阻，度xj 与膜层厚,反比成，边长l无关而与正方形。电测电四探针来测量方块电阻一般采用双，如图4所示测量装置。针等间距地排成直线四根由钨丝制成的探，(一般为几个mm)彼此相距 为s 。薄膜样品的表面上测量时将针尖压在，般选取0.5-2mA )外面两根探针通电流Ⅰ(一，用来测量电压v里面的两探针 ，位差计测量通常利用电。

　　图 当被测样品的长度和宽度远远大于探针间距图4 双电测电四探针测量薄膜方块电阻结构简，具体表达式为薄膜方块电阻:

　　后在内探针处产生的电位差大小有关即薄膜的方块电阻和外侧探针通电流。对探针间距大不多时如果样品的线度相，必须加以适当的修正上 式中的系数c，的形状和大小有关修正值与被测样品。4.5C=3

　　测出结果？ 超出设备测试量程①四探针法钼铜合金电阻率未。0-5至105Ω·cm四探针设备的量程是1，时候会出现超量程的情况所以有很多样品在测试的。测试仪是一样的吗？ 原理是相同的②四探针电阻率测试仪跟粉末电阻率，同一个设备但是不是，用四探针测试的粉末电阻率也是，直接加压测试只是粉末样品，前压 片不需要提。

　　么？ 大多数原因是阻值超量程了③四探针测试样品没有数据是为什，是没问题的导体一般。

　　保留小数位数时④电阻率数值的，数不一致小数位，默认的么是设备，的呢？ 设备预设的改不了整数的是否是四舍五入过，位数有要求如果对小数，注清楚需要备，换算保存同样小数位数老师这边会手动用公式，与仪器计算的有差别但是个别 数据会。电阻率测试⑤四探针，（样品的尺寸要求是什么？） 可以10*12 mm的尺寸可以吗？，都没问题样品多大。是什么？ 也是四探针法⑥粉末电阻率测试方法，末进样后直接粉，片测试自动压；

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